Savkina, M. «Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду». ФІЗИКО-МАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ІНФОРМАЦІЙНІ ТЕХНОЛОГІЇ, вип. 37, Червень 2023, с. 103-7, https://www.fmmit.lviv.ua/index.php/fmmit/article/view/314.