M. Savkina, «Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду», ФММІТ, вип. 37, с. 103–107, Чер 2023.