SAVKINA, M. Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду. ФІЗИКО-МАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ІНФОРМАЦІЙНІ ТЕХНОЛОГІЇ, [S. l.], n. 37, p. 103–107, 2023. Disponível em: https://www.fmmit.lviv.ua/index.php/fmmit/article/view/314. Acesso em: 9 чер. 2026.